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拜访测试报告--频谱仪手机EMI测试
DDI(Display Driver IC)显示器面板驱动IC.用于将数字化处理的图像信号“扫描”到LCD或PDP屏幕上，在三星手机乃至整个移动市场中，显示器的发展趋势正在发生转变，不仅主流企业，连中小型系统供应商目前也将业务向DDI领域拓展，DDI技术更多广泛用于移动终端等电子产品，与多媒体移动应用处理器(AP)技术相结合，为更多厂商提供手机模组及多媒体应用处理器。对于电子产品而言，尤其是对数字移动设备EMC的测试，是国外最重视的实验之一，也是很难通过的一项测试，特别是对移动设备的辐射噪声更难抑制。
以下测试案例正是我们在客户中所遇到的EMI测试应用，在手机EMI测试中所需要测试的一项工作之一：DDI EMI Noise测试。例如用RIGOL DSA815可以对手机屏幕DDI做简单的EMI定性分析，测试方法及实测效果如图所示：
图一：测试的连接方法
方案配置：
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设备名称 |
型号及参数 |
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频谱分析仪 |
RIGOL DSA815 (9KHz-1.5GHz) |
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近场探头 |
德国Langer RF2 |
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上位机软件 |
Ultra spectrum |
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外置前置放大器 |
根据需要选择 |
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固定支架 |
根据需要选择 |
因在测试当中，需将频率范围内的700MHz-1GHz，间隔共计16个频点的峰值显示出来，但DSA815屏幕中最多所显示的峰值表仅为10个，所以需要结合上位机软件进行分析：
图二：利用上位机软件进行分析，将个频点测试结果进行读取
测试条件要求：
1. 频率范围 :700MHz---1GHz
2. RBW/VBW:10KHz
3. SweepPoint：2000
4. NumberOf Sweep：5
5. Attenuation： 0dbm
6. 测试环境良好，无其他复杂干扰信号
测试过程：
首先将DSA815恢复为出厂默认设置，连接近场探头，根据测试条件的要求，将起始频率设置为700MHz，终止频率设置为1GHz，扫宽设置为 300MHz，前置放大器打开，输入衰减设置为0db，降低仪器本身的底噪，可以探测到更多的辐射信号。扫描次数设置为5次，扫描点2000个。将近场探头放置于手机屏幕顶端的IC处(需将手机屏幕点亮至白色时)。距离大约3mm，依次从上下左右进行扫描，测试结果即可在上位机软件上读取16个频点的峰值结果显示。
过程总结：
此案例中所应用的正是频谱分析仪最典型的一种应用：EMI预测试。可以对EMI做定性的分析，从而逐步改善我们的产品，达到相应的测试标准。减少到第三方测试的成本和节省更多的时间。
