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TLA6400 TEK

实惠的 TLA6400 系列逻辑分析仪提供对数字系统功能进行诊断、验证和优化所需的性能。TLA6400 系列还提供完整的信号完整性诊断工具套件,可让您快速隔离、识别和检定难检问题。为当今的应用增添大量支持,是帮助您应对当今数字设计所有诊断挑战的理想工具。
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产品编号
所属分类
逻辑分析仪
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产品介绍
应用
技术参数

 

数字硬件验证和调试

监测、测量和优化数字硬件性能

嵌入式软件整合、调试和检验

以您钟情的价格,高效调试和验证数字系统!

 

TLA6400系列逻辑分析仪价格经济,为调试、验证和优化数字系统功能提供了所需的性能。TLA6400系列还提供了一套完善的信号完整性调试工具,可以迅速隔离、识别和检定难检问题。它全面支持当前应用,您可以获得理想的工具,帮助您解决当前所有数字设计调试挑战。

TLA6400 系列可以高效地验证和调试数字设计的功能:

使用已获专利的25 GHz MagniVu技术,准确测量定时关系。TLA6400系列采用单一的集成采集结构,消除了其它逻辑分析仪结构固有的定时偏移问题

时钟速率高达667 MHz,数据速率高达1333 Mb/s,捕获总线上的信号

您现在可以购买所需的功能,在测量需求增长时进行升级

简单直观的拖放式触发设置,迅速隔离事件

完善的拖放式测量,如频率、周期、脉冲宽度、占空比、边沿数量,简便地汇总设计的性能情况

以各种时间相关格式查看数据,包括波形、列表、图表、反汇编、源代码或比较

找到棘手的信号完整性问题

 

当前的逻辑分析仪不仅要帮助调试设计中的功能问题,还要帮助找到串扰、端接不匹配、地电平弹跳和其它因素引发的信号完整性问题。为帮助调试这些问题,TLA6400系列提供了一套完善的信号调试工具。

这些工具可以:

使用毛刺触发,监测设计中的选定信号,在任何一个信号上找到信号完整性问题时触发采集

自动标出找到的任何信号完整性问题,迅速识别关心的信号

独有的iCapture功能,通过一只探头同时观察数字数据和模拟数据,进一步了解问题

使用iView 查看数据时间相关的数字画面和模拟画面,追踪模拟域和数字域中的信号完整性问题

领先的探测解决方案,实现实时数字系统分析: P5900 系列探头

 

如果没有探头,没有考虑探头对系统和测量时间影响,那么测试测量解决方案是不完整的。由于业内最低的探头负荷,P5900系列逻辑分析仪探头可以保护信号完整性,使其对设计的影响达到最小。在与TLA6400 系列逻辑分析仪一起使用时,P5900系列逻辑分析仪探头以经济的价格提供了完善的逻辑分析功能。您可以选择多种连接机制,包括高密度D-Max®、Mictor 和通用连接器

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